5月26日下午，上海理工大学智能科技学院邀请了加勒斯特理工大学Stefan G. Stanciu研究员参与了“光子纵横论坛”学术交流活动。Stefan G. Stanciu研究员以 “Micro- and Nanoscale Optical Imaging in the Far-field andNear-field Regimes: Techniques, Architectures and Applications”为题展开了一场精彩的报告。活动由学院副院长方心远主持，学院的师生听取了报告。
报告中，Stefan G. Stanciu研究员首先指出高分辨率光学成像技术在解析生物分子、先进材料及功能器件研究中的重要价值，其突破性进展正推动多学科交叉创新。本次讲座聚焦于该团队过去十年在衍射极限及超分辨光学成像领域的系统性突破：开发了覆盖500微米至1纳米分辨率的多模态显微技术体系，包括共聚焦显微镜、非线性光学显微（常规/再扫描/图像扫描）、STED显微术、近场光学显微（s-SNOM）等，并构建了全球首个远场-近场对比联动的多模态成像平台，实现跨尺度、跨机制的高精度空间数据整合。此外，他还展示了将人工智能深度嵌入高分辨率成像流程，通过数据驱动策略优化图像解析与功能预测，为下一代智能显微镜技术奠定基础。这一技术生态从基础方法创新到应用拓展，持续推动纳米科学、生物医学及材料工程的边界突破。报告结束后，师生们围绕系统的分辨率问题与Stefan G. Stanciu研究员进行了广泛而深入的交流。
Stefan G. Stanciu，加勒斯特理工大学，终身制一等（最高级别）科研人员，作为首席研究员创立了“光子-X 光谱实验室”，同时也是“显微镜-显微分析与信息处理中心”首席研究员，主要研究跨学科光子技术及其应用。
学术交流活动现场图片
